エルゴ電子 株式会社

半導体テスタ/ツェナーダイオード測定器/トランジスタテスタ/FET試験機/半導体検査装置

営業品目

■各種トランジスタテスタ
■各種ダイオードテスタ
■各種ツェナーダイオードテスタ
■波形テスタ
■Trrテスタ
■DACテスタ
■絶縁耐圧試験器
■ROMテスタ
■サージテスタ

 

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トランジスタ・FET関連製品

熱抵抗(トランジスタ:△測定器)

トランジスタの熱抵抗をVBE法により測定します。

本装置は試料に一定の電力を消費させ、その前後に於けるVBEの差(VBE)を測定するものです。
熱抵抗の測定は、被測定半導体チップの熱放散状況を試験することで、チップとフレームの接着状態の良否を判定します。また、トランジスタ等の熱抵抗測定では、特に安全動作領域の試験として用いられます。
一般にPN接合を持つ半導体は接合面の温度が上昇するに連れて順方向の閾値(順方向電圧)が下がる性質を持っています。この特性を利用して、被試験物チップの定常時(25度)の順方向電圧と、一時的に大きな電力を消費させた後の高温状態の順方向電圧との差を測定します。

 

熱抵抗(FET:△測定器)

素子の熱抵抗及びVFの差(VF)を測定します。

本装置はFET内部に寄生するダイオードのVFを測定することでその素子の熱抵抗を測定し、試料に一定の電力を消費させその前後於けるVFの差(VF)を測定するものです。
熱抵抗の測定は、測定半導体チップの熱放散状況を試験することで、チップとフレームの接着状態の良否を判定します。
また、FETの熱抵抗測定では、特に安全動作領域の試験として用いられます。
一般にPN接合を持つ半導体は接合面の温度が上昇するに連れて順方向のの閾値(順方向電圧)が下がる性質を持っています。
この特性を利用して、被試験物チップの定常時(25度)の順方向電と、一時的に大きな電力を消費させた後の高温状態の順方向電圧との差を測定します。

 

Wave Form測定装置(トランジスタ)

ジッタ、ドリフト等の検査項目を装置によって自動化を実現しました。

Wave Forテスタは、従来カーブトレーサを使用して、目視による検査や測定を行っていた、ジッタやドリフト、クリープ、ヒステリシス、リアニアリ ティなどの検査項目を、Wave Forテスタにより自動で行うことを可能しました。これにより、省力化はもちろん高速化も実現した測定装置です。
従来からあります一般的な「リークテスタ」や「耐電圧テスタ」等の「電流[I]-電圧[V]特性検査装置」では、ある特定する条件でのスポット的な特定し か行えずダイオード等の半導体が持つ電流[I]-電圧[V]特性の中での、「不連続な特性」や「再現性のない特性」、「時間経過を伴う特性の変化」等の測 定を行うことは出来ませんでした。
本装置では、被試験物に連続した条件を繰り返し印加して高速のA/Dコンバータを用いてデジタル化し、これら従来では困難とされてきた「連続する条件下での特性の測定」を可能としています。

 

他項目測定装置(トランジスタ&ダイオード)

小信号用トランジスタにおける多項目の測定が可能です。

ICESや、IERO、hfeなどの小信号用トランジスタや、シングルあるいはツインスタックのダイオードのIR、VFを測定することができる多項目測定装置です。

【トランジスタ測定項目】
■ICES
■IERO
■hfe
【ダイオード測定項目】
■IR
■VF