エルゴ電子 株式会社

半導体テスタ/ツェナーダイオード測定器/トランジスタテスタ/FET試験機/半導体検査装置

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ダイオード測定器や各種テスタ、試験機

ダイオード関連製品

ダイオード関連製品   弊社で製作した、ツェナーダイオードや、発光ダイオード(LED)などのテスタ(測定器)や試験器について掲載しております。
弊社では、各製品の測定仕様や規格意外にも、ご相談があればお客様に仕様にあわせたオリジナル測定器や試験器を製作しております。ディスクリート部品から集積回路部品の単機能および複合機能試験器まで幅広く取り扱っております。

 

trr測定装置(ダイオード)

trr測定装置は、ダイオードの逆回復時間(trr)の測定を行います。

単結晶清流ダイオードに共通な現象として、順方向電流によって半導体に注入されたキャリアが、順方向電流が零となった後も直ちに消滅せず、ある時間残存します。
このとき残存するキャリアの消滅すまでの時間(逆回復時間)を測定します。

 

熱抵抗測定装置(ダイオード)

熱抵抗測定装置は、被測定ダイオードの熱放散状況の試験を行います。

この試験を行うことで、ダイオードチップとフレーム接着状態の良否を判定します。
一般にPN接合を持つ半導体は、接合面の温度が上昇するに連れ て、順方向のしきい値(順方向電圧)が下がる性質を持っています。この特性を利用して披試験物であるダイオードの定常時(25℃)の順方向電圧と、一時的 に大きな電力を消費させた痕の高温状態の順方向との差を測定します。

 

Wave Form測定装置(ダイオード)

ジッタ、ドリフト等の検査項目を装置によって自動化を実現しました。

Wave Forテスタは、従来カーブトレーサを使用して、目視による検査や測定を行っていた、ジッタやドリフト、クリープ、ヒステリシス、リアニアリ ティなどの検査項目を、Wave Forテスタにより自動で行うことを可能しました。これにより、省力化はもちろん高速化も実現した測定装置です。
本装置は、被試験物(ダイオード)に連続した条件を繰り返し印加して高速のA/Dコンバータを用いてデジタル化し、従来では困難とされてきた、「連続する条件下での特性の測定」(再現性のない特性や、時間経過を伴う特性の変化、不連続な特性など)を可能としています。

 

ツェナーダイオード測定装置

高精度・高安定を実現した、電圧標準用、一般用ツェナーダイオードのテスタです。

ツェナーダイオードの測定器ではVZ(ツェナー電圧)の測定だけでなく、IR(逆方向リーク電流)の測定を併せ持っております。
また、オートハンドラ等と組み合わせて使用する場合には、オープンチェック、ショートチェックをツェナー項目の前に行うものもあります。
一般用のツェナーダイオードも最近では260V程度の製品まで製造されており、当社ではこれらの対応機種もそろえております。