エルゴ電子 株式会社

半導体テスタ/ツェナーダイオード測定器/トランジスタテスタ/FET試験機/半導体検査装置

営業品目

■各種トランジスタテスタ
■各種ダイオードテスタ
■各種ツェナーダイオードテスタ
■波形テスタ
■Trrテスタ
■DACテスタ
■絶縁耐圧試験器
■ROMテスタ
■サージテスタ

 

エルゴ電子株式会社
トランジスタのテスタやダイオード測定器ならエルゴ電子

 

L負荷試験装置を始めとしたFET/ダイオード検査・測定器

●単品、1台からオーダーメイドで製作可能!

オーダーメイドで様々なご要望にお応え致します。
どうぞお気軽にお問い合わせ下さい。

L負荷テスタ写真追加 ◆新着製品情報◆

2008/08
L負荷テスタ・EF-5202の写真追加。

2008/04
ダイオード関連製品

2008/04
トランジスタ・FET関連製品

 

弊社で製作した、L負荷試験装置などのFET検査、ダイオード用測定器などを紹介致します。 下記の測定仕様は、過去において製造しました機器の一般的な使用を基に記してあります。 当社の装置は核使用についきまして各々ニーズに対応する事ができます。

 

L負荷試験器 L負荷試験器(MOS FET)
安全動作領域での高電圧・高電流を試料に印加して破壊されるか否かをチェックス装置です。
概要について
>>詳しくはこちら
  ダイオード関連製品 ダイオード関連製品
ツェナーダイオード測定器や発光ダイオード試験器などの各種検査装置の概要を掲載しております。
>>詳しくはこちら
 
トランジスタ・FET関連製品 トランジスタ・FET関連製品

トランジスタやFET等の各種検査装置を掲載しております。
>>詳しくはこちら
  その他様々な規格に対応可能ですので
是非お気軽にお問合せください!

 

 

 

事業内容のご案内

弊社では、半導検査装置、半導体テスタの製作をおこなっております。
大部分の半導体製造会社様において使用される半導体自動検査装置。
弊社はこ検査装置製造のスペシャリストとして、ダイオード、トランジスタ、FETなどのディスクリート部品から集積回路部品の単機能および複合機能試験器まで幅広く取り扱っております。

 

オーダーメイド
弊社では、規格品の半導体測定器はもちろんの事、お客様のご希望にあわせた仕様で様々なテスタを製作しております。PowerMosやL負荷試験機などダイオードやFET測定器の事ならお任せ下さい。
高品質・利便性
弊社では、お客様のご注文に迅速にお応えすることをモットーにご注文から2ヶ月~4ヶ月程度で製品を納品しております。また、多種の専用基板を予め用意して置くことでコスト削減を可能にしています。
短納期・低コスト
弊社には、多数の納入実績と共に培ってきたノウハウがあります。それにより回路構成をシンプルにまとめ、長年の使用にも耐え得る装置や測定器を製作しております。 また、従来から多数の企業様のご要望にあわせて製作しておりますので、ユーザーが求める使い心地など熟知し、より利便性の高い「使いやすい測定器」の製造が可能です。

 

>>詳しくはこちら